Microspectrómetro óptico de campo cercano de exploración

La serie NFS de microspectrómetros ópticos de campo cercano de barrido ha sido optimizada como una nueva solución para aplicaciones nanotecnológicas. Tradicionalmente, los métodos de caracterización en la escala nanométrica consisten en la observación topográfica usando un microscopio de sonda de electrones o de barrido o análisis elemental usando un microanalizador de rayos X. Estos métodos proporcionan imágenes con alta resolución espacial, pero no pueden obtener información química de una superficie de muestra.

FTIR, fotoluminiscencia o microscopioscopia Raman pueden proporcionar datos químicos para una muestra, pero la resolución espacial está determinada por el límite de difracción de la luz, limitado a la longitud de onda de la luz utilizada. Los microspectrómetros de campo cercano de barrido permiten la caracterización en el rango extremo del nano que excede el límite de la difracción de la luz.

 

La introducción de luz en una sonda de fibra con una abertura de cientos a varios cientos de nm produce luz de campo cercano del mismo tamaño que la abertura de la sonda. Llevar la muestra cerca de la abertura de la sonda (dentro de 100 nm) permite observaciones espectroscópicas con una resolución espacial de varios cientos de nm como resultado de la interacción de la luz de campo cercano con la superficie de la muestra.